Спектрофотометр УФ-видимого диапазона i9
Производитель:
Спектрофотометр серии UV-VIS применяется для научных исследований контроля качества в химической, биохимической и медицинской промышленности, а также на производстве экологии и охраны окружающей среды, и т. д.
Основной блок и программное обеспечение могут независимо реализовывать функции количественного анализа, кинетики, сканирования длины волны, многоволнового анализа, анализа ДНК/белка и печати данных с обработкой данных.
Доступно для предзаказа
Характеристики
| Страна | Китай |
|---|---|
| Вес, кг | 28 |
| Электропитание | 220 В, 50 Гц |
| Интерфейс | USB |
| Фотометрическая точность | ± 0.2 % T |
| Источник света | дейтериевая и вольфрамовая галогенная лампы |
| Габаритные размеры (Д) х (Г) х (В) | 625 х 430 х 210 мм |
| Стабильность | ±0.0004 A/ч (при 500 нм) |
| Детектор | кремниевый фотодиод |
| Диапазон длин волн | 190 — 1100 нм |
| Точность установки длины волны | ± 0.1 нм (при 656.1 нм) или ± 0.3 нм (весь диапазон) |
| Фотометрический шум | ± 0.0005 A |
| Дрейф базовой линии | ± 0.001 A |
| Фотометрическая воспроизводимость | ≤ 0.15 % T |
| Воспроизводимость длины волны | ≤ 0.1 нм |
| Режим настройки длины волны | автоматический |
| Фотометрический диапазон | от -4 до 4 А |
| Уровень рассеянного света | ± 0.03 % T |
| Ширина оптической щели | 0.5 / 1 / 2 / 4 / 5 нм |
Описание
Особенности:
- Высокоскоростной 24-битный аналого-цифровой преобразователь;
- Дейтериевая и вольфрамовая лампы могут быть легко заменены, без регулировки;
- Подвесная модель оптической системы и усиленная и толстая нижняя плита исключают влияние вибраций и деформаций на оптическую систему;
- Автоматическая настройка ширины полосы (0.5, 1, 2, 4, 5 нм).
- Стандарт с программным обеспечением ПК.
