БИК-анализатор SupNIR-2750 ближнего ИК-диапазона, до 30 индексов
БИК — анализатор SupNIR-2750 — настольный БИК-анализатор для экспресс-контроля состава сырья и продуктов в расширенном диапазоне 1000—2500 нм.
Основные особенности:
- работа с хлопьями/гранулами/порошком;
- детектор InGaAs;
- автоколлимационный модуль источника;
- советы по ошибкам на ПК;
- поддержка обмена программными моделями;
- сетевое подключение;
- USB 2.0;
- настольное исполнение.
Доступно для предзаказа
Характеристики
| Страна | Китай |
|---|---|
| Электропитание | 220 В / 50 Гц |
| Температурный диапазон | от 5 до 35°С |
| Вес | 18 кг |
| Интерфейс | USB 2.0 |
| Шум | ˂ 50 дБ |
| Габаритные размеры (Д)х(Г)х(В) | 400 х 420 х 360 мм |
| Диапазон длины волны | 1000-2500 нм |
| Диапазон влажности | от 5 до 85 % |
| Повторяемость длины волны | ± 0,05 нм |
| Спектральное разрешение | 10 нм |
| Рассеивание света | ˂ 0,1 % |
| Срок службы источника света | > 5000 часов |
| Количество индексов одновременно | до 30 |
Описание
БИК-анализатор SupNIR-2750 — прибор для быстрого анализа кормов, зерна, масложирового сырья и других продуктов питания по спектрам ближнего ИК-диапазона. Метод диффузного отражения и расширенный диапазон 1 000—2 500 нм повышают информативность измерений и удобны для задач технологического и входного контроля. Оптическая конструкция с голографической решеткой и высокочувствительным InGaAs-детектором обеспечивает устойчивое соотношение сигнал/шум и повторяемость результатов. Работа ведётся через ПК с программным обеспечением RIMP, которое поддерживает построение калибровок и расчёт показателей (PLS, ANN, SIMCA) для количественного и качественного анализа. Прибор подходит для образцов в виде хлопьев, гранул или порошка, помогает ускорить контроль без сложной пробоподготовки и стандартизировать методики между площадками.
Сфера применения: комбикормовые предприятия; зернопереработка; масложировая отрасль; пищевые лаборатории; входной контроль сырья.
Ключевые преимущества модели:
- расширенный диапазон 1000—2500 нм;
- экспресс-анализ за ~1 минуту;
- отсутствие пробоподготовки;
- разные формы образцов;
- InGaAs-детектор;
- встроенный стандартный образец;
- обмен моделями/сеть.
