Рентгеновский ориентатор монокристаллов DXB-S100
DXB-S100 — настольный рентгеновский ориентатор монокристаллов для определения положения кристаллографических плоскостей и углового отклонения монокристаллических заготовок перед резкой и дальнейшей обработкой.
Основные особенности:
- определение ориентации монокристаллов методом рентгеновской дифракции;
- точность измерения ±15″ при разрешении углового отсчета 1″;
- диапазон измерения θ — 0—50°, 2θ — 0—100°;
- работа со слитками, стержнями, пластинами, небольшими кристаллами
и кристаллическими блоками; - механическая и вакуумная фиксация образцов в зависимости от их
формы и размеров; - рентгеновская трубка с Cu-мишенью, напряжением 30 kVp и плавной регулировкой тока 0—1 мА.
Доступно для предзаказа
Доступно для предзаказа
Характеристики
| Страна | Китай |
|---|---|
| Тип | настольный рентгеновский ориентатор монокристаллов |
| Метод измерения | рентгеновская дифракция |
| Режим измерения | ручной |
| Точность измерения | ±15″ |
| Разрешение углового отсчета | 1″ |
| Диапазон θ | 0—50° |
| Диапазон 2θ | 0—100° |
| Мишень рентгеновской трубки | Cu |
| Напряжение рентгеновской трубки | 30 kVp |
| Ток рентгеновской трубки | 0—1 мА, плавная регулировка |
| Охлаждение | воздушное |
| Электропитание | 220 В, 50 Гц, 1 фаза |
| Потребляемая мощность | ≤ 0,8 кВт |
| Габариты измерительного блока (Д × Ш × В) | 695 × 600 × 470 мм |
| Габариты электрического блока (Д × Ш × В) | 650 × 460 × 470 мм |
Описание
DXB-S100 предназначен для технологической ориентации монокристаллов перед резкой, шлифованием, полированием
и другими операциями обработки. Прибор позволяет определить положение выбранной кристаллографической плоскости относительно поверхности или геометрической оси заготовки, а также оценить ее угловое отклонение.
Измерение основано на методе рентгеновской дифракции. Образец устанавливается на регулируемом предметном столе и позиционируется относительно падающего рентгеновского пучка. При выполнении условия Брэгга регистрируется максимум интенсивности дифрагированного излучения, по угловому положению которого определяется ориентация выбранной системы кристаллографических плоскостей. Поиск дифракционного максимума выполняется вручную.
Ориентатор позволяет работать с заготовками различной формы: слитками, стержнями, пластинами, небольшими кристаллами и кристаллическими блоками. Для различных образцов могут применяться разные варианты предметных столиков и фиксации. Небольшие образцы могут закрепляться механически с помощью пружинного прижима,
а для плоских заготовок и пластин предусмотрена вакуумная фиксация.
DXB-S100 может использоваться для исследования кремния (Si), германия (Ge), кварца (SiO₂), ниобата лития (LiNbO₃), танталата лития (LiTaO₃), ванадата иттрия (YVO₄), а также других лазерных и оптических монокристаллов.
Прибор выполнен в виде настольного измерительного блока и отдельного электрического блока. В электрическом блоке размещены элементы питания и управления, высоковольтный трансформатор, усилитель, счетчик, система воздушного охлаждения и индикаторные приборы.
Сфера применения: производство и обработка монокристаллов; полупроводниковая промышленность; оптические
и лазерные материалы; подготовка монокристаллических заготовок к резке, шлифованию и полированию; контроль кристаллографической ориентации.
Ключевые преимущества модели:
- универсальная работа с заготовками различной геометрии — позволяет исследовать слитки, стержни, пластины
и небольшие кристаллы на одном приборе; - раздельное исполнение измерительного и электрического блоков — позволяет вынести силовые и управляющие компоненты из рабочей измерительной зоны.
